Information about a product
Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Click to zoom

Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: ·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar... czytaj więcej

Wzorcowanie aparatury pomiarowej

Piotrowski Janusz, Kostyrko Krystyna
availability:
status_icon
Available
99,00 zł
89.10 / 1egz.
You save 10% (9,90 zł).
In stock
Publication language:
polski
Edition:
2
Number of page:
582
Binding:
Miękka
ISBN/ISSN:
9788301170516
Producent:
Wydawnictwo Naukowe PWN S.A., ul. Gottlieba Daimlera 2, 02-460 Warszawa (PL), tel. 22 695 43 21, email: recepcja@pwn.pl
Nowoczesne podejście do wymagań współczesnej metrologii! Nowe, zaktualizowane wydanie popularnego poradnika z zakresu metrologii, w którym przedstawiono: ·aktualne wzorce pierwotne podstawowych jednostek miar, wzorce pomiarowe i badanie jednolitości miar; ·podstawowe pojęcia metrologii, procedury zapewnienia jedności miar, procedury wzorcowania przyrządów pomiarowych i badania aparatury pomiarowej; ·zasady tworzenia schematów sprawdzań wzorców i narzędzi pomiarowych; ·aspekty niepewności wyników pomiarów i procedur wyznaczania niepewności, ·wstępne opracowanie wyników kalibracji oraz procedury estymacji charakterystyk liniowych i nieliniowych, jedno- i wielowymiarowych przy różnych właściwościach błędów; ·badanie metod analitycznych oraz badania międzylaboratoryjne procedur wzorcowania; ·aspekty komputeryzacji procedur kalibracji i obsługi laboratorium; ·sprawdzanie (walidację) metod badania i wzorcowania; ·laboratoria akredytowane oraz zagadnienia prawnej kontroli metrologicznej i oceny zgodności; ·przykład księgi jakości laboratorium spełniającego wymagania normy PN-EN ISO/IEC 17025:2005. W porównaniu do poprzedniego wydania w wielu rozdziałach wprowadzono zmiany i uzupełnienia. W rozdziale o jednostkach miar, wzorcach pomiarowych i badaniu jednolitości miar uwzględniono postęp prac nad ustanowieniem nowego (kwantowego) układu jednostek miar SI oraz kierunki prac prowadzonych nad realizacją nowych (kwantowych) etalonów. Opisano też komputerowe wspomaganie procedur wzorcowania. Dokonano aktualizacji przepisów prawnych i norm, co było szczególnie istotne przy omawianiu zasad i uwarunkowań badania biegłości laboratorium wzorcującego, które jest obecnie obwarowane nowymi przepisami i jest pod nadzorem organizacji międzynarodowych. Książka jest adresowana zarówno do studentów uniwersytetów (na wydziałach fizyki i chemii), jak i politechnik, oraz do pracowników naukowych i inżynierów zajmujących się budową aparatury pomiarowej oraz jej stosowaniem we wszystkich dziedzinach od mechaniki, elektrotechniki po chemię
Zobacz również
Retoryka debatyRetoryka debatyBudzyńska-Daca Agnieszka
89,00 zł   80,10 zł
Zanieczyszczenia pyłowe i gazoweZanieczyszczenia pyłowe i gazoweJanka Ryszard Marian
89,00 zł   80,10 zł
AlgokracjaAlgokracjaRybiński Krzysztof, Królewski Jarosław
89,00 zł
This page uses cookie files to provide its services in accordance to Cookies Usage Policy. You can determine conditions of storing or access to cookie files in your web browser.
Close
pixel